热辅助磁记录设备的光诱导力显微镜与多模态成像分析

对热辅助磁记录头纳米天线结构（由虚线圆圈标出区域）同步采集形貌、光诱导力显微镜（PiFM）及散射式扫描近场光学显微镜（s-SNOM，以探针振动频率的一次谐波检测）图像。检测波长为830 nm。

对通电状态的热辅助磁记录头同步采集形貌、磁力显微镜（MFM）及散射式扫描近场光学显微镜（s-SNOM，以三倍振动频率3ω0检测）图像。边带模式MFM产生的磁场图像远优于提升模式MFM成像。S-SNOM检测波长为830 nm。