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Murphy, J., Raybin, J., Sibener, S.,
Journal of Polymer Science
自原子力显微镜(AFM)问世以来,它已成为研究聚合物材料基础与应用不可或缺的工具。AFM多种成像模式与操作条件的灵活性,使其能够对结晶、相分离、自组装及电子传输等一系列动态过程进行纳米尺度表征。AFM技术的进步(特别是高速与高分辨率成像技术)使得我们能够在真实工况下,跨越相关时空尺度研究聚合物的结构、功能与动力学行为。本文重点综述近期利用AFM关联聚合物薄膜功能与结构的研究进展,着重探讨其多参数成像功能。随着聚合物材料与形态复杂性的持续提升,AFM技术完全有能力满足随之增长的纳米尺度成像与表征需求。
DOI: 10.1002/pol.20210321