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Park, B., Lee, S., Kwon, J., Kim, W., Jung, S., Kim, C.,
Scientific reports
光激活原子力显微镜(pAFM)通过集成光激发与微悬臂针尖偏转的机械检测,已成为探测纳米结构的常用工具。提高照明激光功率虽是提升pAFM信噪比的直接手段,但强激光可能损伤样品与针尖。本文提出双脉冲pAFM(DP-pAFM)技术,通过引入具有时间延迟的双激光脉冲解决该问题:第一束激光加热光吸收体并改变局部格临艾森参数值,第二束激光在热弛豫时间内增强机械振动。应用该技术,我们成功实现了小分子半导体薄膜光学结构的纳米成像。值得注意的是,DP-pAFM清晰呈现了有机半导体薄膜中的纳米裂纹——该现象对小分子半导体具有关键影响。DP-pAFM为多学科领域研究复杂纳米现象开辟了新的光学途径。