纳米尺度横向诱导光力的测量

Huang, F., Tamma, V., Rajaei, M., Almajhadi, M., Kumar Wickramasinghe, H.
Appl. Phys. Lett.

Abstract

我们利用原子力显微镜（AFM）实现了横向诱导光力的测量。通过测量AFM探针尖端与金薄膜中单个纳米孔之间的横向光力，绘制了镀金AFM探针与纳米孔间的横向电场分布。采用AFM悬臂探针的扭转本征模态来探测横向诱导光力，并通过聚焦离子束铣削技术对悬臂形状进行工程化改造以提高信噪比。实测的横向光力分布与金属涂层AFM探针和纳米孔相互作用的电磁模拟结果高度吻合。该技术可扩展至利用AFM悬臂作为多通道探测器，同步测量纳米尺度的横向与纵向光力，从而实现不同入射场偏振下分子响应的同步光诱导力显微镜检测。此项技术可兼容基于悬臂梁和音叉的原子力显微镜系统。

DOI: 10.1063/1.4975682