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散射式扫描近场光学显微镜（s-SNOM）
解析复数光学常数（实部与虚部）
在纳米尺度深度理解样品物理特性
探针散射光同时包含样品的吸收（振幅） 与耗散（相位） 信息。悬臂梁作为纳米天线，可隔离并放大20纳米区域内的信号。
背景零干扰近场成像
通用锁相解调技术
专利解调方案相比传统多锁相方法提供更优的信噪比（SNR）。
光子全信号捕获
通过集成所有边带信号，显著提升检测灵敏度。
同步提供PiFM与s-SNOM技术方案
成就当前可用的最高分辨率纳米级化学分析仪器
高次谐波成像技术
当前最先进的图谱成像方案
PiFM与PiF-IR兼具最高分辨率与极简操作性，是纳米级化学分析领域的尖端技术代表。
随时升级至顶尖配置
我们提供当前可获得的最高分辨率纳米级化学分析仪器
Lorem Ipsum
当前最先进的图谱成像技术
PiFM（光诱导力显微镜）与PiF-IR（光诱导力红外光谱）兼具最高分辨率与极简操作性，是纳米级化学分析领域的尖端技术代表。
开启纳米级成分分析体验
sSNOM 应用
Vista-IR-S 红外光谱成像系统
尽管光诱导力显…
可见光波段光诱导力显微镜（Visible PiFM）
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热辅助磁记录设备的光诱导力显微镜与多模态成像分析
对热辅助磁记录…